Просмотр публикации #1839


Редактор : Некрылова И. М.

Дата создания: 2018-12-06 14:56:46
Дата модификации: 2020-04-04 16:38:02

Наименование :

Авторы :
Фамилия
Имя
Отчество
Вклад

Выходные данные :
Путролайнен, В. В. Многокристальное корпусирование и тестирование микросхем NAND-памяти [Текст] / В. В. Путролайнен, С. Ф. Подрядчиков // Цифровые технологии в образовании, науке, обществе: материалы XII всероссийской научно-практической конференции (4–6 декабря 2018 года). – Петрозаводск, 2018. – С. 189-193. – Режим доступа: https://it2018.petrsu.ru/doc/it2018.pdf.

Атрибуты библиографической записи

Объект библиографического описания


Издание-источник : ISBN :
Вид публикации для ИАИС :
Значимость публикации: РИНЦ :
Время и место проведения конференции :
Общее обозначение материала :
Язык :
Примечание к форме 16 :
ББК :
УДК :
Название конференции :
Год издания :
Место издания (город) :
Форма работы :
Категория работы :
URL :
Наименование издания :

Сведения об ответственности издания :
Издательство :
Местоположение (номера страниц) :
Количество страниц :



Статус : Проверена

PetrSU | DIMS&PhE | Contact Us | © 2008 Lab127 Team