Просмотр публикации #1822


Редактор : Некрылова И. М.

Дата создания: 2018-11-22 14:35:14
Дата модификации: 2018-11-22 14:35:38

Наименование :

Авторы :
Фамилия
 Имя
 Отчество
 Вклад

Выходные данные :
Программа для автоматизированного комплекса функционального тестирования промышленных образцов интегральных микросхем памяти на соответствие стандарту ONFi"NAND Flash Memory Tester" [Текст] / И. Е. Табачник, М. Б. Чувствин, С. Ф. Подрядчиков, В. В. Путролайнен. – № 2018660544 ; заявл. 16.07.2018 ; опубл. 23.08.2018 ; Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. – 1 с.
Атрибуты библиографической записи

Объект библиографического описания


Язык :
Форма работы :
Категория работы :
Вид публикации для ИАИС :
Общее обозначение материала :
Год издания :
Номер гос. регистрации патента :
Дата подачи заявки на патент :
Дата публикации заявки на патент :
Офиц. издание патента :
Прочие сведения о патенте :
Количество страниц :
Не включать авторов в название :



Статус : Проверена

PetrSU | DIMS&PhE | Contact Us | © 2008 Lab127 Team